1測(cè)量原理 導(dǎo)波雷達(dá)是基于時(shí)間行程原理的測(cè)量?jī)x表，雷達(dá)波以光速運(yùn)行，運(yùn)行時(shí)間可以通過電子部件被轉(zhuǎn) 換成物位信號(hào)。探頭發(fā)出高頻脈沖并沿纜式或桿式探頭傳導(dǎo)，當(dāng)脈沖遇到物料表面時(shí)反射回來(lái)被儀表 內(nèi)的接收器接收，并將距離信號(hào)轉(zhuǎn)化為物位信號(hào)。 輸入 反射的脈沖信號(hào)沿纜式或桿式探頭傳導(dǎo)至儀表電子線路部分，微處理器對(duì)此信號(hào)進(jìn)行處理，識(shí)別 出微波脈沖在物料表面所產(chǎn)生的回波。正確的回波信號(hào)識(shí)別由智能軟件完成，距離物料表面的距離D與 脈沖的時(shí)間行程T成正比：D=C×T/2 其中C為光速因空罐的距離E已知，則物位L為： L=E-D 輸出 通過輸入空罐高度E（=零點(diǎn)），滿罐高度F（=滿量程）及一些應(yīng)用參數(shù)來(lái)設(shè)定，應(yīng)用參數(shù)將自動(dòng) 使儀表適應(yīng)測(cè)量環(huán)境。對(duì)應(yīng)于4…20mA輸出。 2 測(cè)量范圍 F----測(cè)量范圍 E----空罐距離 B----頂部盲區(qū) H----探頭到罐壁的小距離 頂部盲區(qū)是指物料料面與測(cè)量參考點(diǎn)之間的小距離。底部盲區(qū)是指纜繩底部附近無(wú)法精確測(cè)量的一段距離。 頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間是有效測(cè)量距離。 注意： 只有物料處于頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間時(shí)，才能保證罐內(nèi)物 位的可靠測(cè)量。 二、產(chǎn)品介紹 應(yīng)用：液體、粉料、固體顆粒 測(cè)量范圍：0～30米 過程連接：螺紋、法蘭 過程溫度：-40…250℃ 過程壓力：-1.0…20bar 精 度：±1mm 頻率范圍：100MHZ…1.8GHZ 防爆/防護(hù)等級(jí)：Exia II C T6/IP67 信號(hào)輸出：4…20mA/HART(兩線)